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薄膜厚度測(cè)量?jī)x又稱為覆層測(cè)厚儀，原理以及應(yīng)用如下：一、薄膜厚度測(cè)量?jī)x原理磁性測(cè)厚原理：當(dāng)測(cè)頭與覆層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測(cè)量其變化可計(jì)算覆蓋層的厚度。渦流測(cè)厚原理：利用高頻交電...

實(shí)驗(yàn)室的工作追求的是性，可是環(huán)境振動(dòng)源的影響很容易成為一個(gè)問題，一些實(shí)驗(yàn)可能由于輕微振動(dòng)的影響而無法獲得的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。主動(dòng)式減震系統(tǒng)就是為了解決這一問題產(chǎn)生的，它采用主動(dòng)或被動(dòng)的隔振措施隔離振動(dòng)，提供水平、穩(wěn)定的臺(tái)面。實(shí)驗(yàn)或測(cè)量不受振動(dòng)因素。...

XRF鍍層測(cè)厚儀結(jié)構(gòu)新穎、體積小、重量輕、可靠。由于采用機(jī)電一體結(jié)構(gòu)，整機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)平穩(wěn)，無振動(dòng)，操作簡(jiǎn)單，實(shí)驗(yàn)速度快，降低勞動(dòng)強(qiáng)度。它是一種對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測(cè)量的儀器，測(cè)量的對(duì)象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。...

光學(xué)表面輪廓儀利用激光檢測(cè)技術(shù)的基本原理，在型材的一道工序代替人工檢測(cè)，鋼材表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)不僅可以實(shí)時(shí)對(duì)鋼材表面缺陷檢測(cè)，還能提供數(shù)據(jù)庫管理缺陷以及鋼板其他信息，為管理人員提供方便的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)及存儲(chǔ)查詢等功能，輔助進(jìn)行鋼材質(zhì)量管理工作。輪廓...

盤點(diǎn)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x的八個(gè)功能光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上...

光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x能夠避免前期的樣品處理，甚至是不需要樣品來進(jìn)行試樣工作。傳統(tǒng)的測(cè)厚儀，在測(cè)量物件時(shí)，需要進(jìn)行樣品的處理，使樣品與被測(cè)量物件一致，在測(cè)量時(shí)直接應(yīng)用于樣品測(cè)量。而儀器的使用是直接應(yīng)用于被測(cè)量物體。這樣的一個(gè)過程便為我們節(jié)省了不少的...