薄膜厚度測量儀是針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。它是電鍍產(chǎn)品的重要技術(shù)指標(biāo)，關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量以及生產(chǎn)成本。

　　膜厚儀原理：

　　磁性測厚法是利用被測試樣與標(biāo)準(zhǔn)磁體之間的吸引力的變化來轉(zhuǎn)換成鍍層的厚度。這種方法只能適用于對磁性能敏感的基體上的非磁性鍍層，如鋼鐵基體上的銅、鋅、錫等鍍層。鋼件上的鎳鍍層就不能很好地測量出結(jié)果。

　　磁性測厚法的優(yōu)點(diǎn)是對鋼鐵基體上的非磁性鍍層提供了一種快速的測量方法，其準(zhǔn)確度可達(dá)85%-90%。測量樣件的粗糙度對測量結(jié)果有影響。如果被測件的基體很薄時(shí)，比如樣片厚度低于0.25mm時(shí)，會有較大測量誤差，這時(shí)可以在樣片后另加一個(gè)與基體材料相同的厚一些的無鍍層材料來減少誤差。

　　性能優(yōu)勢：

　　1、精密的三維移動平臺；

　　2、的樣品觀測系統(tǒng)；

　　3、圖像識別；

　　4、輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測；

　　5、四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動切換；

　　6、雙重保護(hù)措施，實(shí)現(xiàn)無縫防撞；

　　7、薄膜厚度測量儀采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度。