關(guān)于XRF鍍層測厚儀的優(yōu)勢和原理你了解嗎？
2020-03-19
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XRF鍍層測厚儀又叫膜厚儀、膜厚測試儀、膜厚計或者鍍層測厚儀（比如GT810F、GT810NF、GT8102等），可無損地測量磁性金屬基體（如：鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性涂層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等），以及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。XRF鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點，是控制和產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測儀器。
XRF鍍層測厚儀的優(yōu)勢如下：
1、對于壓敏膠，涂布/紙加工，煙草薄片，水性涂層，熱熔膠等材料，賽默斐視薄膜XRF鍍層測厚儀擁有非接觸測量的優(yōu)勢。
2、在測量速度的基礎(chǔ)上，XRF鍍層測厚儀能夠?qū)⒈粶y物微小的厚度變化完整地呈現(xiàn)出來。
3、XRF鍍層測厚儀能擁有*的重復(fù)性，預(yù)計GRR能夠達(dá)到5%左右。
XRF鍍層測厚儀作業(yè)原理
膜厚儀采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
a)磁性法(F型測量頭)
當(dāng)測量頭與覆蓋層接觸時，測量頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
b)渦流法(N型測量頭)
利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場，當(dāng)測量頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對測量頭中的線圈產(chǎn)生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
